摘 要:采用直線截點(diǎn)法對(duì)某金屬晶粒的平均截距進(jìn)行了測量,并對(duì)測量過程中的每個(gè)不確定 度分量進(jìn)行了評(píng)定,然后根據(jù)不確定度傳播規(guī)律求出了平均晶粒度的合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度,并最終給 出了擴(kuò)展不確定度.結(jié)果表明:在該試驗(yàn)條件下,試驗(yàn)金屬平均晶粒度測定的擴(kuò)展不確定度U＝ ０．１,包含因子k＝２,平均晶粒度級(jí)別數(shù)G＝８．４±０．１;該次評(píng)定測量不確定度較小與所測金屬晶粒 大小均勻、晶界清晰、儀器狀態(tài)良好、檢測人員水平接近、直線截點(diǎn)法本身的測定精度較高等因素有 關(guān),試驗(yàn)過程中要注意這些因素的控制.

關(guān)鍵詞:直線截點(diǎn)法;平均截距;平均晶粒度;不確定度評(píng)定 中圖分類號(hào):TG１１５．２１ 文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A 文章編號(hào):１００１Ｇ４０１２(２０１８)０４Ｇ０２６５Ｇ０４

在長期的生產(chǎn)實(shí)踐過程中,人們發(fā)現(xiàn)金屬材料的晶粒尺寸與其力學(xué)性能有著直接關(guān)系.一般來說,晶粒越細(xì),不僅材料的強(qiáng)度、硬度越高,而且塑性、韌性也越好,工程上晶粒尺寸已經(jīng)成為評(píng)定金屬材料性能的重要依據(jù)[１].國內(nèi)外很多產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)都對(duì)晶粒度 的 技 術(shù) 要 求 和 檢 驗(yàn) 方 法 給 出 了 明 確 的 規(guī)定[２],晶粒度測定的不確定度評(píng)定也變得十分重要.為此,筆者以某金屬為例,采用直線截點(diǎn)法測定其平均晶粒度,并建立了測定結(jié)果不確定度評(píng)定的數(shù)學(xué)模型,通過對(duì)不確定度來源進(jìn)行分析和評(píng)定,最終給出了晶粒度測定結(jié)果的不確定度報(bào)告.

１ 試樣制備與試驗(yàn)方法

對(duì)某金屬制備了晶界清晰的金相試樣[３],采用由 Axiovert４０MAT 金相顯微鏡和 MIAPS分析軟件組成的圖像分析系統(tǒng)進(jìn)行晶粒尺寸測量和分析.在２０倍物鏡下觀察試樣晶粒形貌,并采用直線截點(diǎn)法測 量 晶 粒 的 平 均 截 距,然 后 根 據(jù) GB/T６３９４－２０１７«金屬平均晶粒度測定方法»給出的晶粒度計(jì)算公式求出平均晶粒度.

２ 數(shù)學(xué)模型的建立

根據(jù) GB/T６３９４－２０１７,晶粒度級(jí)別數(shù)G 計(jì)算公式如下：

式中:l??為平均截距.因此,建立數(shù)學(xué)模型如下:

式中:y 為試樣的平均晶粒度級(jí)別數(shù);x 為試樣的平均截距,mm.

３ 不確定度來源分析

對(duì)于金屬 晶 粒 的 平 均 截 距,經(jīng) 分 析 得 出 其 測量結(jié)果的不 確 定 度 來 源 主 要 有:重 復(fù) 性 測 量 引 入的輸入量x 的 A 類標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u(x１);圖像分析系統(tǒng)準(zhǔn)確度引入的輸入量x 的 B類標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u(x２);圖像分析系統(tǒng)分辨率引入的輸入量x 的 B類標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u(x３);測 微 標(biāo)尺準(zhǔn)確度引入的輸入量x 的 B類標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u(x４).

４ 不確定度的評(píng)定

４．１ 不確定度分量的評(píng)定

４．１．１ 重復(fù)性測量引入的輸入量x 的 A 類標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u(x１)的評(píng)定

為增加可靠性,在試樣檢驗(yàn)面上選擇１０個(gè)不同視場,使用金相顯微鏡自帶的 MIAPS軟件測量平均截距.由６名檢測人員在相同條件下對(duì)同一視場進(jìn)行測量,每個(gè)視場?。度藴y量的平均值x??j 作為測量結(jié)果(j為視場編號(hào),j＝１,２,??,m;m＝１０),并分別計(jì)算出 測 量 列 的 標(biāo) 準(zhǔn) 差sj,這 樣 獲 得 的 數(shù) 據(jù) 如表１所示.

表１中標(biāo)準(zhǔn)差sj 是根據(jù)貝塞爾公式計(jì)算獲得的,即

式中:i為測量人員編號(hào),i＝１,２,??,n,n＝６;xi 為平均截距測量值;x?? 為６名人員測量的平均截距的平均值.

由表１ 中數(shù)據(jù)計(jì)算得標(biāo)準(zhǔn)差sj 的平均值為:由于該試驗(yàn)是在重復(fù)性條件下進(jìn)行多組獨(dú)立測量,所以重復(fù)性測量引入的不確定度可采用 A 類方法中的合并樣本標(biāo)準(zhǔn)差法[４Ｇ５]進(jìn)行評(píng)定.合并樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差sp 的計(jì)算公式如下：

代入數(shù)據(jù)計(jì)算得:sp＝０．３９０６μm. 標(biāo)準(zhǔn)差sj 的標(biāo)準(zhǔn)差計(jì)算公式為：

代入數(shù)據(jù)計(jì)算得^:σ(s)＝０．０９９８μm.

標(biāo)準(zhǔn)差sj 的估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差為：

其 中 n 為 測 量 人 員 數(shù),n＝６.由 于^σ(s)＜^σ估 (s),所以測量狀態(tài)穩(wěn)定,高可靠度的sp 可用.

根據(jù)GB/T６３９４－２０１７,一般實(shí)際檢測以３個(gè)視場測量的平均值作為結(jié)果.以表１中第１人前３個(gè)視場測量結(jié)果的平均值：作為平均截距測量結(jié)果,則由重復(fù)性測量引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量為:，(其中k 為包含因子,由于是 均 勻 分 布,所 以k 取 ３),,自 由 度v＝m(n－１)＝５０.

４．１．２ 圖 像 分 析 系 統(tǒng) 準(zhǔn) 確 度 引 入 的 輸 入 量 x 的B類標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u(x２)的評(píng)定校準(zhǔn)圖像分析系統(tǒng)時(shí),整個(gè)圖像系統(tǒng)(包括顯微鏡物鏡放大倍數(shù)和分析軟件提供的測量尺等)同時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn).由校準(zhǔn)證書可知,在２０倍的物鏡下圖像分析系統(tǒng)測量時(shí)產(chǎn)生的相對(duì)誤差為０．３％,屬于均勻分布.則由圖像分析系統(tǒng)準(zhǔn)確度引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量為:μm(其中a 為區(qū)間半寬).由于校準(zhǔn)應(yīng)該由國家法定計(jì)量部門出具,所以有

０[其中 Δu(x)為標(biāo)準(zhǔn)差的標(biāo)準(zhǔn)差或不確定度的不確定度,u(x)為標(biāo)準(zhǔn)差或不確定度],此時(shí)自由度

４．１．３ 圖 像 分 析 系 統(tǒng) 分 辨 率 引 入 的 輸 入 量 x 的B類標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u(x３)的評(píng)定圖像分析系統(tǒng)分辨率公式為

式中:δx 為最小分辨率,μm;λ 為光線的波長,nm;A 為物鏡的數(shù)值孔徑.式(６)中,λ ?。埃担郸蘭,２０倍物鏡的數(shù)值孔徑

為０．５,由圖像分析系統(tǒng)分辨率引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度屬于均勻分布,則由分辨率δx[４]引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量為:

同理,自由度ν＝５０.

４．１．４ 標(biāo) 準(zhǔn) 測 微 標(biāo) 尺 準(zhǔn) 確 度 引 入 的 輸 入 量 x 的B類標(biāo)準(zhǔn)不確定度分量u(x４)的評(píng)定校準(zhǔn)圖像分析系統(tǒng)所用的標(biāo)準(zhǔn)測微標(biāo)尺引入的標(biāo)準(zhǔn)不確定度屬于均勻分布,根據(jù)校準(zhǔn)證書可知:

(其中U 為校準(zhǔn)證書給出的擴(kuò)展不確定度;k 為校準(zhǔn)證書中的包含因子,一般k＝２).同理,自由度ν＝５０.

４．２ 合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度的評(píng)定

由于上述各不確定度分量彼此獨(dú)立不相關(guān),根據(jù)數(shù)學(xué)模型公式(２),分量的靈敏系數(shù)：

則合成標(biāo)準(zhǔn)不確定 度 為:

４．３ 擴(kuò)展不確定度的評(píng)定

取包含概率p≈９５％,包含因子k＝２,則平均晶粒度級(jí)別數(shù)的擴(kuò)展不確定度為:U＝k??uc(y)＝２×０．０７＝０．１.

以表１中第１人前３個(gè)視場測量結(jié)果的平均值作為結(jié)果代入數(shù)學(xué)模型公式(２)中,則平均晶粒度級(jí)別數(shù)為:y＝－３．２８７７－６．６４３９lg(０．０１７４１)＝８．４.

５ 不確定度報(bào)告

試驗(yàn)金屬的平均晶粒度級(jí)別數(shù)